Microscopie de force dynamique: éléments (Deuxième partie)

Résumé : Ce cours en deux parties (deuxième partie ici) introduit les deux modes dynamiques utilisés en microscopie à force atomique (AFM): mode de modulation d'amplitude (AM-AFM), plus connu sous le nom de "Tappling" et mode de modulation de fréquence (FM-AFM), également connu sous le nom de non-contact AFM. Les aspects pratiques et théoriques propres à chaque mode sont discutés et illustrés d'un point de vue expérimental. Concernant le non-contact AFM, nous détaillons point par point l'électronique de contrôle de l'instrument et illustrons son fonctionnement à partir des résultats d'un code numérique qui reprend très précisément une électronique de contrôle existante.
Document type :
Lectures
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Contributor : Laurent Nony <>
Submitted on : Friday, April 22, 2011 - 4:49:18 PM
Last modification on : Tuesday, June 19, 2018 - 4:34:03 PM
Long-term archiving on : Saturday, July 23, 2011 - 2:45:33 AM

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  • HAL Id : cel-00588298, version 1

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Laurent Nony. Microscopie de force dynamique: éléments (Deuxième partie). DEA. 2006. ⟨cel-00588298⟩

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