Microscopie de force dynamique: éléments (Première partie)

Résumé : Ce cours en deux parties (première partie ici) introduit les deux modes dynamiques utilisés en microscopie à force atomique (AFM): mode de modulation d'amplitude (AM-AFM), plus connu sous le nom de "Tappling" et mode de modulation de fréquence (FM-AFM), également connu sous le nom de non-contact AFM. Les aspects pratiques et théoriques propres à chaque mode sont discutés et illustrés d'un point de vue expérimental. Concernant le non-contact AFM, nous détaillons point par point l'électronique de contrôle de l'instrument et illustrons son fonctionnement à partir des résultats d'un code numérique qui reprend très précisément une électronique de contrôle existante.
Type de document :
Cours
DEA. 2006, pp.36
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Contributeur : Laurent Nony <>
Soumis le : vendredi 22 avril 2011 - 16:47:28
Dernière modification le : mardi 19 juin 2018 - 16:34:03
Document(s) archivé(s) le : samedi 23 juillet 2011 - 02:45:07

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Laurent Nony. Microscopie de force dynamique: éléments (Première partie). DEA. 2006, pp.36. 〈cel-00588297〉

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