Microscopie de force dynamique: éléments (Deuxième partie)
Résumé
Ce cours en deux parties (deuxième partie ici) introduit les deux modes dynamiques utilisés en microscopie à force atomique (AFM): mode de modulation d'amplitude (AM-AFM), plus connu sous le nom de "Tappling" et mode de modulation de fréquence (FM-AFM), également connu sous le nom de non-contact AFM. Les aspects pratiques et théoriques propres à chaque mode sont discutés et illustrés d'un point de vue expérimental. Concernant le non-contact AFM, nous détaillons point par point l'électronique de contrôle de l'instrument et illustrons son fonctionnement à partir des résultats d'un code numérique qui reprend très précisément une électronique de contrôle existante.